分析方法能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素數幾十種元素可同時分析
處理器和內存CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲最大支持32G，標配2G，可以海量存儲數據
含量范圍ppm～99.99%
檢測時間3-30秒
GPS、WIFI內置系統
檢測對象固體、液體、粉末
探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率最低可達139eV
激發源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達ppm級
安全性自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存
可充氣系統常壓充氦氣系統
數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，分析，高計數率
操作環境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式光譜儀主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有、便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。 要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優良的儀器穩定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數、去卷積等復雜的數學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索
對于金屬制造行業來說 ,質量控制和非常重要。材料檢驗是確保金屬制品使用合格材質的關鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會引起災難性事故,給企業 帶來巨大的經濟損失。手持合金成分分析儀是檢測金屬材料是否合格的關鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質量控制以及檢測人員可以 在完全無損的條件下,每天地檢測上千個金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測 出 完 整 而 準確 的 結 果 。測試時間是1~2秒,無需制備樣品,從金屬細絲到成品焊點,螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測。
儀器既可手持1-2秒對樣品進行測試，也能使用座式對樣品進行較長時間的精細測試，10秒即可進行接近實驗室精度的測量。 數據傳輸更加高速 采用嵌入式Windows CE系統，高顯示分辨率（640*480）液晶顯示觸摸屏，結合數字多道技術，采用SPI數據傳輸，有效提升數據傳輸能力與數據運算能力。在任何環境中，測試數據都盡在掌中。 防護、關愛健康 三重防護功能，自動感應，具有無樣品空測，2秒自動關X光管功能；工作時的水平遠低于國際標準，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護罩。 電量強勁、充電方便。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的狀態,當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權人員無法使用 Data使用性：可在PDA內進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時
手持式光譜分析儀 產品優勢：
1、一鍵式開機并檢測。 2、一體式供電，解決了電腦缺電造成測試數據丟失的風險。 3、只需開機一次。（超長待機無需關閉電源，無檢測操作時自動待機，同時光管及探測器斷電停止工作） 4、自動關機（自定義長時間未進行檢測操作）
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