分析方法能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素數幾十種元素可同時分析
處理器和內存CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲最大支持32G，標配2G，可以海量存儲數據
含量范圍ppm～99.99%
檢測時間3-30秒
GPS、WIFI內置系統
檢測對象固體、液體、粉末
探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率最低可達139eV
激發源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達ppm級
安全性自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存
可充氣系統常壓充氦氣系統
數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，分析，高計數率
操作環境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持式合金分析儀 應用領域◆廢舊金屬回收◆PMI鑒別◆生產制造QA/QC控制◆流體加速腐蝕◆貴金屬分析 產品特點 性能 精度高，接近實驗室級的分析水平，可直觀顯示合號和元素百分比含量（某些元素可顯示到小數點后三位）及ppm含量 速度快，操作簡單 “開機啟動—瞄準測試—察看結果”，整個分析過程僅需數秒便可完成，合號鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術人員也可輕松掌握。
手持式光譜儀設備維護與保養：
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放，防止內部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除，以免造成測量結果不準確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應更換電池，充電。
合金材料分析 目前在合金材料檢測領域，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現場測定，是伴隨世界經濟崛起的工業和制造領域必不可少的成份鑒定工具。 重金屬檢測 除了傳統的合金材料檢測，貴金屬，RoHs合規篩查，礦石分析，手持式XRF儀器同樣在地質勘探和環境評估中發揮著重要的作用，通過分析土壤中的重金屬元素，可以知道整個區域的礦產分布和污染分布。 其他領域 XRF技術還可以用于一些新的領域，比如風電和汽車領域，通過對油品中金屬元素含量進行檢測，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應用領域正在被開發出來，使得XRF技術在各個行業領域得到了廣泛的應用。比如工廠的生產制造環節的焊接質量控制，也會用到XRF合金分析儀。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權人員無法使用 Data使用性：可在PDA內進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續工作8小時
技術參數： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統：Peltier 半導體冷卻系統 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 濕度：0～95%
手持式光譜儀系統誤差的來源有： (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。 (3)澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數據會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統誤差。 (5)要系統誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規定要求。為了檢查系統誤差，需要采用化學分析方法分析多次校對結果。
http://m.bsxlm.com
